تراشه ای برای تحلیل ساختار های لایه نازک سه بعدی ارائه شد

به گزارش مجله نماشو، شرکت نوپای چیپمتریکس تراشه ای برای تست و بررسی ساختار های لایه نازک سه بعدی ارائه کرد که از طریق آن فراوری ساختار های نانومقیاس در صنعت امکان پذیر می گردد.

تراشه ای برای تحلیل ساختار های لایه نازک سه بعدی ارائه شد

به گزارش گروه فناوری خبرنگاران، تراشه تست پیرال هیل (PillarHall) برای تجزیه و تحلیل ساختار های فیلم نازک سه بعدی به بازار عرضه شده است. استارت آپ چیپمتریکس (Chipmetrics Oy)، که از VTT انشعاب یافته است، آغاز به تجاری سازی این فناوری نموده است. این تراشه تست، امکان فراوری ساختار ها و قطعات نانومقیاس را امکان پذیر می نماید.

این فناوری فرصت های جدیدی را برای توسعه نیمه هادی ها، مدار های حافظه و دستگاه های هوشمند و ... را فراهم می نماید.

فراوری و یکپارچه سازی سه بعدی، فرایند های اصلی در صنعت نیمه هادی هستند، چرا که می توان از آن ها برای بهبود عملکرد و بازدهی انرژی ترانزیستور ها و مدار های حافظه استفاده کرد. ساختار ها و مواد جدید در مقیاس میکرو و همچنین کوچک شدن قطعات، چالش هایی برای فراوریکنندگان نیمه هادی ایجاد نموده است؛ دلیل این امر، احتیاج به تجهیزات پردازش، اندازه گیری و آزمایش برای سه بُعد است. پیرال هیل راهکار این چالش ها است.

هوش مصنوعی با همه چیز در هم آمیخته است و حمل و نقل هوشمند، مراکز داده و فناوری پزشکی، از جمله نقاطی است که هوش مصنوعی روی زندگی افراد تأثیرگذار بوده است. اکنون اجزای سازنده باید بیش از هر زمان دیگری قابل اطمینان باشند و برای این منظور به اندازه گیری و آزمایش بیشتری احتیاج است. تراشه آزمایش پیرال هیل برای مقایسه ای سریع، قابل اعتماد و مقرون به صرفه فرآیند های ساخت سازه های فیلم نازک مناسب است. می توان از آن برای اندازه گیری انطباق فرآیند فیلم نازک، یعنی توانایی پوشش دهی یک شیء سه بعدی به طور یکنواخت استفاده کرد.

میکو اوتریاینن از شرکت چیپمتریکس گفت: از این تراشه آزمایشی یک بار مصرف پیرال هیل می توان برای مقایسه فرآیند های مختلف فیلم نازک سه بعدی و راکتور ها استفاده کرد. این یک روش استثنایی است چرا که معمولا در اندازه گیری های رایج از ویفر های پردازش شده و دستگاه های گران قیمت استفاده می گردد در حالی که این تراشه فرآیند ساده و ارزانی هستند. از این تراشه می توان برای تسریع در توسعه فرآیند و همچنین نظارت بر فراوری در آینده استفاده کرد.

این تراشه محصول تخصص در حوزه لایه نشانی اتمی (ALD) در فنلاند و تجربه VTT در فرآیند های فراوری MEMS است.

این تراشه آزمایش توسط VTT و پیرو پروژه های تحقیقاتی مختلف از سال 2013 ساخته شده است.

منبع: خبرگزاری دانشجو
انتشار: 4 تیر 1401 بروزرسانی: 4 تیر 1401 گردآورنده: namasho.ir شناسه مطلب: 3384

به "تراشه ای برای تحلیل ساختار های لایه نازک سه بعدی ارائه شد" امتیاز دهید

امتیاز دهید:

دیدگاه های مرتبط با "تراشه ای برای تحلیل ساختار های لایه نازک سه بعدی ارائه شد"

* نظرتان را در مورد این مقاله با ما درمیان بگذارید